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- 壓控溫補(bǔ)晶振
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常見問題
更多>>石英晶振7XZ,石英晶體振蕩器32.768K,臺灣進(jìn)口晶技晶振日本進(jìn)口貼片晶振品牌【EPSON】日本愛普生【SEIKO】日本精工【KDS】日本大真空【CITIZEN】日本西鐵城【RIVER】日本大河【kyocera】日本京瓷32.768KHZ系列,在當(dāng)今全球晶振市場說的上是質(zhì)優(yōu)價(jià)廉,產(chǎn)品"7XZ-32.768KDE-T"本身外觀是多種化,體積有大有小,有二個(gè)腳SMD焊接模式,也有三個(gè)腳SMD焊接模式,一樣有四個(gè)腳焊接模式,還有時(shí)鐘模塊焊接模式,產(chǎn)品具有無源32.768KHZ,也有帶電壓模式的32.768KHZ晶體系列,產(chǎn)品應(yīng)用范圍非常廣闊,比如多種電子消費(fèi)類,手機(jī)應(yīng)用,藍(lán)牙多功能播放器,無線通訊產(chǎn)品,平板電腦等多個(gè)領(lǐng)域,因32.768KHZ晶體本身外觀款式多元化,所以適合多個(gè)產(chǎn)品應(yīng)用.并且滿足歐盟ROHS環(huán)保要求,晶體"7XZ-32.768KDE-T"本身有重量輕,體積小,超薄型等多種優(yōu)勢,得到市場認(rèn)可.
型號 | 7XZ |
頻率范圍 | 32.768K |
頻率穩(wěn)定度 | A:±100 B:±50 C: ±30 D: ±25 |
輸出電平 | CMOS |
工作溫度 | -10℃~+60℃,-20℃~+70℃,或客戶要求 |
保存溫度 | -40℃~+85℃ |
負(fù)載電容 | 15pF |
輸出對稱 | 40% ~ 60% or 45% ~ 55%(at 55%V DC) |
標(biāo)準(zhǔn)包裝 |
2000/pcs |
產(chǎn)品的可靠性(信賴性):
產(chǎn)品的可靠性可以通俗的理解為:產(chǎn)品生產(chǎn)完成后,不會因常規(guī)的搬運(yùn),儲存而使其性能受影響,不會因客戶的焊接,清洗和封裝等各種使用條件而影響性能.產(chǎn)品的可靠性可以通過"7XZ-32.768KDE-T"各種可靠性試驗(yàn)來衡量,目前常見的可靠性試驗(yàn)有:
高溫儲存試驗(yàn) 125℃±10℃;1000H±24H
溫度循環(huán)試驗(yàn) T1 = -55℃±10℃ T2= 125℃±10℃;循環(huán)次數(shù)10次.(溫度轉(zhuǎn)換約30分鐘)
溫度沖擊試驗(yàn) T1 = -55℃±10℃ T2= 125℃±10℃;循環(huán)次數(shù)10次.(溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間5秒)
恒溫恒濕試驗(yàn) TC 85±10℃ H 85% ;1000H±24H
可焊性(焊錫)試驗(yàn) 230±10℃;3 s
耐焊接試驗(yàn) 260±10℃;10 s
跌落試驗(yàn) 75 cm;3 次.
振動(dòng)試驗(yàn) 頻率10 Hz — 2000 Hz;振幅 1.5 mm;每方向 40 分鐘.
老化率試驗(yàn) TC 85±10℃;300 H
壽命試驗(yàn)(MTBF);85℃or125℃;1000H;利用公式及失效產(chǎn)品數(shù)計(jì)算出產(chǎn)品模擬壽命.
其余試驗(yàn)主要是通過對比試驗(yàn)前后產(chǎn)品的電性能變化情況來衡量產(chǎn)品的可靠性,其中高溫儲存試驗(yàn),老化率試驗(yàn)和壽命試驗(yàn)考察產(chǎn)品的儲存條件與儲存時(shí)間;溫度循環(huán)試驗(yàn)"7XZ-32.768KDE-T"和溫度沖擊試驗(yàn)考察產(chǎn)品在客戶端使用時(shí)對溫度變化的耐受情況.產(chǎn)品在制程中無明顯污染,銀層牢固,封焊時(shí)露點(diǎn)符合要求,檢漏無漏氣就能滿足要求.
臺灣晶技電子立基臺灣,是一家專業(yè)石英頻率控制元件"7XZ-32.768KDE-T"制造商.主要產(chǎn)品包括『石英振蕩子』、『石英振蕩器』、『壓控石英振蕩器』、『溫度補(bǔ)償石英振蕩器』,并且是臺灣唯一擁有生產(chǎn)『恒溫控制石英振蕩器』技術(shù)的制造商,本著“顧客至上、質(zhì)量第一、信譽(yù)為本、持續(xù)改進(jìn)”的質(zhì)量方針,以專業(yè)專注為宗旨在,數(shù)碼產(chǎn)品等領(lǐng)域中榮獲“中國數(shù)碼電子晶振第一家的稱號”,在國內(nèi)服務(wù)數(shù)千家高科技企業(yè).