常見問題
更多>>SA324晶振,3225M金屬四腳晶體,CTS諧振器,超小型表面貼片型SMD晶振,最適合使用在汽車電子領(lǐng)域中,也是特別要求高可靠性的引擎控制用CPU的時鐘部分.
低頻晶振可從7.98MHz起對應(yīng),小型,超薄型具備強(qiáng)防焊裂性,石英晶振在極端嚴(yán)酷的環(huán)境條件下也能發(fā)揮穩(wěn)定的起振特性,產(chǎn)品本身具有耐熱,耐振,耐撞擊等優(yōu)良的耐環(huán)境特性,滿足無鉛焊接以及高溫回流溫度曲線要求,符合AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn).
CTS晶振規(guī)格參數(shù) | 型號SA324 |
頻率范圍 | 12.0~120MHZ |
頻率公差@25℃ |
±10ppm, ±15ppm, ±20 ppm, ±30 ppm, ±50 ppm |
頻率穩(wěn)定度公差 |
±15ppm, ±20 ppm, ±30 ppm, ±50 ppm, ±100 ppm |
工作溫度范圍 |
-40°C to +85°C -40℃to~125℃ |
等效串聯(lián)電阻 | ±15 ppm, ±20 ppm, ±30 ppm, ±50 ppm, ±100 ppm |
負(fù)載電容 | 10pF, 12pF, 16pF, Series standard |
激勵功率 | 10 μW typical, 100 μW maximum |
老化@ + 25°C | 3.0 pF typical, 5.0 pF maximum |
絕緣電阻(@直流100 v) | 500M Ohms minimum |
儲存溫度范圍 | -40°C to +125°C |
回流條件下 | +260°C maximum, 10 Seconds maximum |
CTS是一家集晶體的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售為主的晶振廠家.產(chǎn)品主要面向為國內(nèi)通信,衛(wèi)星導(dǎo)航,GPS,車載多媒體,電腦主板,筆記本,電子數(shù)碼選擇應(yīng)用領(lǐng)域,以及出口的海外客戶需求.公司擁有業(yè)界領(lǐng)先的晶振自動測試系統(tǒng),日本全自動生產(chǎn)檢測電腦儀器設(shè)備,和瑞士ERC公司銣原子頻標(biāo)的工廠頻率基準(zhǔn),頻譜分析儀,網(wǎng)絡(luò)分析儀,合成信號源等高端儀器設(shè)備.
產(chǎn)品的可靠性可以通俗的理解為:產(chǎn)品生產(chǎn)完成后,不會因常規(guī)的搬運,儲存而使其性能受影響,不會因客戶的焊接,清洗和封裝等各種使用條件而影響性能.產(chǎn)品的可靠性可以通過各種可靠性試驗來衡量,目前常見的可靠性試驗有:
高溫儲存試驗 125℃±10℃;1000H±24H
溫度循環(huán)試驗 T1 = -55℃±10℃ T2= 125℃±10℃;循環(huán)次數(shù)10次.(溫度轉(zhuǎn)換約30分鐘)
溫度沖擊試驗 T1 = -55℃±10℃ T2= 125℃±10℃;循環(huán)次數(shù)10次.(溫度轉(zhuǎn)換時間5秒)
恒溫恒濕試驗 TC 85±10℃ H 85% ;1000H±24H
可焊性(焊錫)試驗 230±10℃;3 s
耐焊接試驗 260±10℃;10 s
跌落試驗 75 cm;3 次.
振動試驗 頻率10 Hz — 2000 Hz;振幅 1.5 mm;每方向 40 分鐘.
老化率試驗 TC 85±10℃;300 H
壽命試驗(MTBF);85℃or125℃;1000H;利用公式及失效產(chǎn)品數(shù)計算出產(chǎn)品模擬壽命.
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